扫描电子显微镜 (SEM)

SEM 通过精细聚焦的电子束扫描样品表面所激发的各种物理信号对样品表面进行调制和成像。

SEM是利用逐点成像，将样品表面的不同特征按次序和比例转换成图像，如二次电子图像。

背散射电子图像

扫描电子显微镜的优点是：

1）放大倍数更高；

2）景深大，视场大，三维图像。

3）制样简单。

示例图：

透射电子显微镜（TEM）

TEM是将聚焦的电子束投射到极薄样品的表面，并透射电子 通过样品电子束或衍射电子束产生的图像，用于分析样品的微观结构。

TEM通常用于研究纳米材料的结晶，观察纳米粒子的形貌和分散，测量和评价纳米粒子的粒径。

示例图：

扫描隧道显微镜（STM）

STM是应用量子理论隧道效应来探测物质表面结构。

带少量电荷的探针慢慢穿过物质，电流从探针流出，穿过整个物质，到达表面底层。

当探针穿过单个原子时，流过探针的电流量会发生波动，从而获得一张照片。

示例图：

原子力显微镜（AFM）

AFM检测样品表面与微型力敏感元件之间极弱的原子间相互作用力 , 研究材料表面的结构和性能。

将一对对弱力极为敏感的微悬臂梁的一端固定在样品上，另一端的尖端紧贴样品，通过它们之间的相互作用，微悬臂梁 -悬臂变形或改变运动状态。

传感器用于检测这些变化，以获得表面形貌结构信息和表面粗糙度信息。

原子力显微镜分为接触式、非接触式和轻敲式

原子力显微镜的优点：

1）原子力显微镜提供了真正的三维 表面图。

2) 不会对样品造成损坏。

3）更广泛的适用性。

示例图片：